Низкочастотный анализатор частотного отклика Solartron 1255B

Анализатор частотного отклика Solartron 1255В представляет собой одно из тех измерительных устройств, которое всегда остается современным. Используя метод одно-синусоидального анализа, он обеспечивает быстрое и точное измерение амплитуды и фазы между любыми двумя точками системы. Полностью цифровой метод пригоден для оценки характеристик как простых, так и комплексных систем – механических, электронных и электрохимических.  

Вот уже более 50 лет Solartron Analytical разрабатывает и производит анализаторы частотного отклика, которые получили признание де-факто отраслевого стандарта во всем мире. Накопленный опыт помог создать анализатор 1255В, обладающий рабочим диапазоном частот до 1 МГц при разрешении по частоте 1/65 миллионов (1,54 х 10-8). Модель 1255В сочетает в себе мощь и изощренность современной измерительной техники с концептуальной простотой, быстротой и точностью работы, позволяющим эксплуатировать её даже далекому от техники человеку.

ЭЛЕКТРОХИМИЯ 

Измерение импеданса играет важную роль в изучении электрохимических/биологических явления и процессов, а также в материаловедении. Анализатор частотного отклика 1255В в сочетании с потенциостатом, например, Solartron 1287A, может использоваться для различных видов исследований, в том числе: 

изучение процесса коррозии и способов защиты от нее;

свойства органических и неорганических покрытий и пленок;

разработка твердых электролитов для датчиков кислорода;

создание новых материалов для анодов/катодов и электролитов;

изучение свойств животных и растительных тканей;

фотоэлектрические эффекты;

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ 

В сочетании с диэлектрическим интерфейсом Solartron 1296 и оборудованием для проведения тепловых (температурных) испытаний анализатор Solartron 1255В позволяет испытывать различные процессы и материалы, в том числе: 

материалы для создания сверх конденсаторов / топливных элементов;

процессы снижения напряжений в молекулярной динамике жидких кристаллов, полимеров и жидкостей;

перенос заряда в полупроводниках, органических кристаллах, керамике и т.п.;

анализ протекания химических реакций, полимеризации и вулканизации;

новые датчики для газов и жидкостей;

характеризация изоляционных и полупроводниковых материалов;

управление качеством готовой продукции в процессе производства изоляторов, электронных печатных плат и т.д.